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000000Ć1150Ć839 IOLMaster 11.02.2004
Radiación óptica
Iluminación del entorno/
determinación del WTW (opcional)
Longitud de ondas
Potencia entregada
880 nm
< 100
W
Medición de la longitud axial
Fuente
Longitud de ondas
máx. potencia para medir
máx. potencia para ajustar
Tiempo que dura cada medición
Duración del impulso
Cantidad de mediciones posibles
Clase de láser:
con uso de acuerdo a la finalidad
en el aparato (no se tiene acceso)
Láser de diodo semiconductor (MMLD)
780 nm
450
W
80
W
0,5 s
20 por ojo y por día
1 (EN 60825Ć1)
3B
Luz de fijación para la medición queraĆ
tométrica y la de la profundidad de la cámara
anterior y determinación del WTW
Longitud de las ondas
Potencia entregada
590 nm
< 1
W
Iluminación para medir con el queratómetro
Longitud de las ondas
Potencia entregada
880 nm
< 50
W
Lámpara excitadora para la medición de la
profundidad de la cámara anterior, potencias
integrales de la iluminación
UV (300 ... 400 nm)
IR (700 ... 1100 nm)
L
B
(ojo fáquico)
L
A
(ojo afáquico)
0,00087 mW cm
-2
0,04 mW cm
-2
(En el área espectral de 860 ... 1100 nm no se puede comprobar la
emisión de una fuente luminosa
122,8 W (m
2
sr)
-1
125,5 W (m
2
sr)
-1
Especificaciones técnicas
