4.3
Untermenü für Testfunktionen
Nr.
Parametername
Symbol
Beschreibung
T3.1
Multitest
Untermenü
Multitest anwählen
T3.2
Ereignisse
Anzeige der Ereignisse anwählen
T3.3
DAC III
Untermenü
DAC III Parameter anwählen
T3.4
Daten-Reset
Untermenü
Reset
T3.5
Memo-Dongle
Untermenü
Memo-Dongle anwählen
4.3.1
Untermenü Multitest
Nr.
Parametername
Symbol
Beschreibung
T3.1.1
Ausgänge
Untermenü
Ausgangstest anwählen
T3.1.2
Eingänge
Untermenü
Eingangstest anwählen
T3.1.3
Autoeingang
Untermenü
des automatischen Eingangstests
anwählen
T3.1.4
Nähmotor
Untermenü
Nähmotortest anwählen
T3.1.5
Schrittmotor
Untermenü
Schrittmotortest anwählen
T3.1.6
RAM
Untermenü
RAM-Test anwählen
T3.1.7
EPROM
Untermenü
EPROM-Test anwählen
12
Summary of Contents for 540-100-1
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Page 144: ...5 Buttonhole programming 5 1 Composition of a buttonhole 26...
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