9 Problembehandlung
9 Troubleshooting
Elektronische Last Serie PLI - Electronic Load PLI Series
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9.4
Verzerrte Analoge Messsignale
9.4
Distorted Monitor Signals
Speziell beim Prüfen von getakteten Stromversorgungen kann es
vorkommen, dass die Messsignale am Analog-I/O-Stecker für
Spannung, Strom, etc. (IMON, VMON) verzerrt sind. Die Ursache
dazu ist im Aufbau des Messkreises zu suchen.
Especially when switched-mode power supplies are tested,
situations may occur where the monitor outputs for current and
voltage (IMON, VMON) at the I/O Port are distorted. The reason for
this distortion have to be searched in the test setup.
Getaktete Stromversorgungen haben Filter im Ausgangskreis,
unter anderem sogenannte Y-Kondensatoren, die vom Ausgang
zur Schutzerde des Gerätes geschaltet sind.
Switched-mode power supplies have got filters in the output circuit
and among others so-called Y-capacitors from the output to
Protective Earth.
Auch die Elektronische Last und andere Messgeräte haben aus
EMV-Gründen Filter eingebaut.
Also the Electronic Load and other instruments include filters
because of EMC reasons.
Durch die Common Mode Störspannung (Spannung, die beide
Ausgangsanschlüsse der Stromversorgung gegenüber der
Schutzerde aufweisen) fließt ein Fehlerstrom durch den
Entstörkondensator über die Last oder angeschlossene
Messgeräte zurück auf den Lastausgang.
The common mode distortion voltage (voltage between each output
terminal of the power supply and Protective Earth) causes a fault
current through the EMC capacitors and the Electronic Load (or other
instruments) back to the output.
Dieser Störstrom erzeugt meist hochfrequente Überlagerungen
an den Messsignalen.
This fault current often generates high-frequent superpositions at
the measurement signals.
Besonders hohe Störspannungen werden bei dynamischen
Prüfungen erzeugt.
Abhilfe schafft hier, die Elektronische Last und/oder die weiteren
angeschlossenen Messgeräte über Trenntransformatoren mit
geringer Kopplungskapazität zu versorgen. Der Störstromkreis
wird damit unterbrochen, und die Qualität der Messsignale wird
verbessert.
At dynamic tests very high interference voltages may occur.
To solve this problem you can supply the Electronic Load and/or the
other instruments by insulating transformers with low coupling
capacity. Thereby the interference circuit is interrupted and the
measurement quality is improved.
9.5
Auswirkungen der Eingangskapazität
9.5
Effects of the Input Capacity
Jede Elektronische Last hat eine gewisse Eingangskapazität (siehe
Technische Daten). Diese macht sich bei sauberen DC-
Eingangsspannungen wenig bis gar nicht bemerkbar.
Each electronic load has a certain input capacity{ XE "Input
capacity" \f "E" } (see Technical Data). This is hardly noticeable with
clean DC input voltages.
Ist die Spannung am Lasteingang jedoch mit eine
m
Wechselspannungsanteil behaftet, ergibt sich auf dem Laststrom
ebenfalls ein Wechselstromanteil abhängig von Amplitude und
Frequenz der Wechselspannung. Dies ist kein Regelschwingen der
Elektronischen Last.
However, if the voltage at the load input is superimposed with an
AC voltage component, the load current also contains an AC current
component depending on the amplitude and frequency of the AC
voltage. This is not an oscillation of the Electronic Load.
