TABLE OF CONTENTS
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INTRODUCTION . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
SPECIFICATIONS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 1
CONTROLS AND OPERATOR'S FACILITIES . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 3
OPERATING INSTRUCTIONS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4
CURVE TRACER SET-UP . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
OSCILLOSCOPE SET-UP AND CALIBRATION . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
Vertical Calibration . . . .
.
. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5
Horizontal Calibration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
Low Voltage Horizontal Calibration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6
High Voltage Horizontal Calibration . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7
Oscilloscope Connections to Curve Tracer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
SEMICONDUCTOR DEVICE CONNECTIONS TO CURVE TRACER . . . . . . . 8
Plug-in Transistors . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
Non Plug-in Transistors . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8
In-Circuit Probe . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
Diodes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
TYPICAL SEMICONDUCTR TESTS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
Familiarization with the Curve Tracer . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
Transistor Testing Procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
Effects of Curve Tracer Controls . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11
Sorting and Matching Transistors . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12
In-Circuit Transistor Testing . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13
CURVE TRACER APPLICATIONS ..................................... 14
Testing Bipolar Transistors . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
NPN vs. PNP Transistors ......................................... 14
CURRENT GAIN MEASUREMENT .................................... 14
DC Current Gain (DC beta) ....................................... 15
AC Current Gain (AC beta) ...................................... 15
Summary of Transistor Current Gain . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
Current Gain Linearity vs. Distortion .............................. 16
BREAKDOWN VOLTAGE MEASUREMENT ............................. 18
LEAKAGE MEASUREMENT (In:ol ...................................... 19
SATURATION VOLTAGE [Vn:C
ar
>J .................................... 19
OUTPUT ADMITTANCE (h.,
0) • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • • •
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EFFECTS OF TEMPERATURE . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20
TESTING FET'S ...................................................... 21
Transconductance (Gain) Measurement ............................ 22
Pinch-Off (Vp) Voltage Measurement .............................. 23
TESTING SIGNAL AND RECTIFIER DIODES . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 24
Testing Zener Diodes . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
TESTING UNIJUNCTION TRANSISTORS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 26
TESTING SILICON CONTROLLED RECTIFIERS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27
TESTING TRIACS . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28
TESTING TUNNEL DIODES ........................................... 29
TESTING OTHER SEMICONDUCTOR DEVICES . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Diacs ........................................................... 30
Integrated Circuits . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
MAINTENANCE AND CALIBRATION .................................. 30
Calibration Procedure . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Alternate Method using an Oscilloscope . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Curve Display Modification . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 30
Troubleshooting .............................................. , .. 31
CIRCUIT DESCRIPTION . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 32
