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DTX-MULTI 12
35. RAM
[ テストコード ]
A0 23 00
[ 最初の表示 ]
35:RAM
Press [ENTER]
[ テスト内容 ]
SDRAM の、ライト／リード／ベリファイテストを行い
ます。
特定のアドレス群に特定のデータを書き込んだ後に読み
出し、書き込んだ値と比較します。
RAM が使用する全アドレス線、全データ線を使用して行
います。
[ テスト方法 ]
[ENTER] ボタンを押して、テストを実行させます。
[ チェック項目 ]
LCD に表示されるテスト結果を確認します。
[ 判定結果の表示 ]
OK の時：
35:RAM
OK
NG の時：
35:RAM
NG
[ 判定結果の MIDI コード出力 ]
[ テストコード ]
36. A0 24 00
37. A0 25 00
38. A0 26 00
39. A0 27 00
40. A0 28 00
41. A0 29 00
[ 最初の表示（例）]
36:Trig(S) IN04
Press [ENTER]
[ テスト内容 ]
JK シート PH コネクタ（CN305‒310）に、[PHONES] 端
子からループさせた信号を加え、
・ 入力された信号が適切な値で CPU に入力されている
こと
・ 他の入力に信号の漏れが無いこと
・ 波形の減衰値が適切であること
を確認します。
各テストのループバック先は、
36. Trig(S) IN04: CN305
37. Trig(S) IN05: CN306
38. Trig(S) IN06: CN307
39. Trig(S) IN07: CN308
40. Trig(S) IN08: CN309
41. Trig(S) IN09: CN310
※ [PHONES] 端 子 か ら の 出 力 波 形 は、 周 波 数 4 kHz、
+12.0 dBu（負荷 10kΩ）の正弦波です。
※ 当検査は、シート検査時のみ行います。
[ テスト方法 ]
[ENTER] ボタンを押して、テストを実行させます。
スタートすると、
下記のような画面表示（例）になります。
36:Trig(S) IN04
Waiting...
[PHONES] ボリュームを最大にします。[PHONES] 端子
から出力した信号を、CN305 〜 CN310 に入力します。
[ チェック項目 ]
LCD に表示されるテスト結果を確認します。
[ 判定結果の表示（例）]
OK の時：
36:Trig(S) IN04
OK
NG の時：
36:Trig(S) IN04
NG tooHi:XX
too Hi XX:
入力レベルが XX のため NG
36:Trig(S) IN04
NG XtIN
○○
:XX
XtIN ○○ XX:
○○チャンネルへの信号の漏れが XX あるため NG
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