Sony MDS-E12, Руководство по обслуживанию

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3-6. 自動診断機能
このテストモードは, CREC, CPLAYを自動で行い, 主に光ピックアップの特性確認を行います。このテストモードを行うには，
まずレーザパワーの確認が出来ているということが条件になるので, レーザパワーチェックとIop Compareを行ってからAUTO
CHECKをおこなって下さい。
操作方法：
1. YES ボタンを押します。このとき LDPWR ミチェック と表示されたらレーザパワーチェックを行っていないというこ
となので, まずレーザパワーチェックとIop Compareを行いもう一度手順1.からやり直してください。
2. ディスクがメカデッキの中に入っている場合,そのディスクは強制的にイジェクトされます。 DISC IN の表示がでるの
で,記録してもよいテストディスク（MDW-74/GA-1）を入れてください。
3. 手順2.でディスクがローディングされると, 自動的にチェックが始まります。
4. XX CHECK と表示されているとき , XX に相当する項目のチェックを行っています。
06 CHECK が終了すると,手順2.で入れたディスクがイジェクトされます。ここで, DISC IN と表示されるので, チェッ
クディスク（MD）TDYS-1 を入れてください。
5. 手順4.のディスクがローディングされると, 07 CHECK から自動的にチェックが再開されます。
6. 検査項目12までが終了すると,チェックOKあるいはNGが表示されます。全ての項目がOKのとき CHECK ALL OK と表
示され, 項目のうち一つでもNGのときは NG : xxxx と表示されます。
CHECK ALL OK と表示したときは光ピックアップに問題は有りません。他のスピンドルモータ , スレッドモータ等の動作
確認をして下さい。
NG : xxxx と表示したときは光ピックアップに不具合が有ります。光学ピックアップの交換をして下さい。
3-7. INFORMATION
ソフトウェアのバージョンを表示します。
操作方法：
1. INFORMATION と表示されているときに、 YES ボタンを押します。
2. ソフトウェアのバージョンが表示されます。
3. MENU/NO ボタンでこのモードを終了します。
3-8. MEMORY NGの表示が出たときの対応
不揮発メモリのデータに異常があった場合MDデッキは動作を続けないように E001 / MEMORY NG と表示します。この
場合速やかにテストモードに入り次の作業をおこなってください。
操作手順：
1. テストモードに入る。（3-2参照）
2. 通常はテストモードのモードを選択する表示になりますが, 不揮発に異常がある場合は次のように表示されます。
INIT EEP?
3. ここで, x ボタンと EJECT A ボタンを2重押しします。
4. l AMS L つまみを回して MDM-7SC を選択します。
5. l AMS L つまみを押します。不揮発の書き換えに成功したら通常のテストモードへ戻りテストモードのモード選択
の表示になります。