DVM101
V. 02
–
02/12/2019
67
©Velleman nv
Stopień
zanieczyszczenia
3
Występują zanieczyszczenia o właściwościach
przewodzących lub zanieczyszczenia suche bez właściwości
przewodzących, które na skutek kondensacji mogą stać się
przewodzące.
(środowiska przemysłowe i mające kontakt z powietrzem
zewnętrznym, ale chronione przed działaniem opadów
atmosferycznych).
Stopień
zanieczyszczenia
4
Zanieczyszczenia powodujące stałe przewodzenie prądu –
pyły przewodzące, deszcz lub śnieg (odkryte środowiska
zewnętrzne, środowiska z wysokim poziomem wilgotności
lub dużymi stężeniami drobnych cząstek).
Uwaga:
Niniejsze urządzenie zostało opracowane zgodnie z normą EN
61010-1 dla
stopnia zanieczyszczenia 2
. Oznacza to, że obowiązują
pewne ograniczenia w zakresie stosowania urządzenia związane z
zanieczyszczeniem, które może wystąpić w stosowanych układach. Patrz
powyższa tabela.
Niniejsze urządzenie jest przeznaczone do pomiarów
wyłącznie w układach o stopniu
zanieczyszczenia II.
9.
Specyfikacja
WAŻNE: Urządzenie nie mierzy napięć dodatnich <2 V. Ręczne ustawienie
mV nie jest możliwe.
Urządzenie nie jest skalibrowane fabrycznie!
Przepisy dotyczące środowiska pracy:
Przyrząd może być stosowany wyłącznie do pomiarów w środowiskach
kategorii I, II, III i IV (patrz §7).
Przyrząd może być stosowany wyłącznie w środowiskach o stopniu
zanieczyszczenia 2 (patrz §8).
Idealne warunki robocze:
temperatura: 0 °C - 40 °C (32 °F - 104 °F)
wilgotność względna: maks. 80
%
wysokość n.p.m.: maks. 2000
m (6560 st)
napięcie
.......................................................................... 600 V
zabezpieczenie bezpiecznikiem
F500 A / 600 V, 5 x 20 mm
F15 A / 1000 V 5 x 20 mm
zasilanie............................................... 1 x 9 V 6F22 (w zestawie)
wyświetlacz
...............................................
LCD, wartości do 1999
wymiary wyświetlacza
............................................... 61 x 32 mm
przekroczenie zakresu ........................................................... tak
brzęczyk ciągłości
................................................................. tak
testowanie tranzystorów ...................................................... brak
