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Technische Daten
Spektral
technologie:
i1Pro 3 PLUS i1
®
-Technologie (holografisches Beugungsgitter mit einem
128-Pixel-Diodenraster) mit integriertem Wellenlängentest
Spektralbereich: 380 - 730 nm
Physikalisches Messintervall: 3,5 nm
Optische Auflösung:
10 nm
Spektrale Auflösung:
380 nm ... 730 nm mit 10 nm Intervall
Messfrequenz im Scanmodus: 400 Messungen pro Sekunden
Optik:
Messgeometrie: 45°/0°; Ringbeleuchtungsoptik, ISO 13655:2017
Messblende: 8 mm Durchmesser
(effektive Messblende während des Scans hängt von der Messfeldgröße
und Messgeschwindigkeit ab)
Messfleckgröße :
12 mm
Lichtquelle: LED-Beleuchtung i1Pro3 (mit UV)
Reflexions
messung:
spektrale Reflexion (dimensionslos)
Messbedingungen: M0: Mit UV-Anteil - ISO 13655:2017 M1: D50 - ISO 13655:2017
M2: ISO 13655:2017 M3: Polfilter - ISO 13655:2017
OBC:
Korrektur für optische Aufheller (OBC) mit Software i1Profiler
Kalibrierung: Manuell auf externer Weißkachel
Messunterlage: weiß, ISO 13655:2017 bei Verwendung der mitgelieferten Messunterlage
Min. Messfeldgröße im
Einzelmessmodus (Breite x Höhe):
14 x 14 mm
Min. Messfeldgröße im Scanmodus
(Breite x Höhe):
Max. Scanlänge:
16 x 16 mm mit i1iO
16 x 16 mm mit Sensorlineal
20 x 16 mm ohne Sensorlineal
20 x 16 mm mit Sensorlineal im M3-Modus
22 x 16 mm ohne Sensorlineal im M3-Modus
515 mm
Messgeräteübereinstimmungt:
0,4 ∆E00* im Mittel, max. 1,0 ∆E00*
(Abweichung vom X-Rite Fertigungsstandard bei 23 °C im
Einzelmessmodus bei 12 BCRA-Kacheln (D50/2°))
Kurzzeitwiederholgenauigkeit:
0,1 ∆E94* auf weiß (D50/2°, Mittel aus 10 Messungen auf weiß alle 3 s )
Emissions
messung:
Spektrale Radianz [mW/nm/m
2
/sr], Luminanz [cd/m
2
]
Messgeräteübereinstimmungt: 0,2 - 5000 cd/m
2
auf einem handelsüblichen LCD-Monitor
Kurzzeitwiederholgenauigkeit: typ. x,y ±0,002 (5000 K, 80 cd/m
2
)
Umgebungs
lichtmessung:
i1Pro3 PLUS:
Spektrale Irradianz [mW/nm/m
2
], Luminanz [Lux]
Messkopf für diffuses Licht mit Kosinuskorrektur
Schnittstelle:
USB 1.1
