21
13. Prueba de diodos
Use esta prueba para revisar diodos y otros dispositivos
semi-conductores. La prueba de diodo envía una corriente a través de la
unión del semiconductor y entonces mide el voltaje de caída a través de la
unión. Una buena unión de silicón cae de 0,5 a 0,8 V.
1. Gire la perilla a la función [ ].
2. Conecte las puntas negra en
COM
y la punta roja en
ΩVHz.
3. Conecte las puntas al componente semiconductor ponga la punta roja
al ánodo y la negra al cátodo.
4. Realice la medición el valor se mostrara en la pantalla
1
2
Asegúrese de que los circuitos se encuentran sin energía y los
capacitores completamente descargados para evitar choques eléctricos
o daños en el equipo.
+
-
COM
hFE
mA
TEMP
10A
600V
CAT III
MAX 10A
FUSED
MAX 30 sec.
every 15 min.
Hz
Содержание MUL-288
Страница 50: ...12 12 hFE Gain factor beta transistors ...
Страница 76: ...38 38 ...