TK-2217
51
ADJUSTMENT /
调整
1. BPF
(1)中心频率
频谱分析仪
ANT
编程软仵 :
调整波形如
波形调整
频谱分析仪设定
BPF
KPG-100D
右图所示
Center-f : 155MHz
Span
: 100MHz
RBW : 30kHz
VBW : 30kHz
ATT
: 5dB
(2)高边频率
频谱分析仪设定
Center-f : 174MHz
(3)低边频率
频谱分析仪设定
Center-f : 136MHz
2. 灵敏度检查 测试 CH : 低
SSG
ANT
检查
12dB SINAD 或
[ 宽 ]
中心
DVM
以上
高
示波器
SSG 输出 : -117 dBm (0.3μV)
AF VTVM
SSG MOD : 3.0kHz
[ 窄 ]
测试 CH : 中心
SSG 输出 : -115 dBm (0.4μV)
SSG MOD : 1.5kHz
3. SQL1
测试 CH : 中心
编程软件 :
写入
静噪开放
(静噪阀值)
低
KPG-100D
写入
高
[ 宽 ]
SSG 输出 : -123 dBm (0.16μV)
SSG MOD : 3.0kHz
[ 窄 ]
测试 CH : 中心
SSG 输出 : -122 dBm (0.18μV)
SSG MOD : 1.5kHz
4. SQL9
测试 CH : 中心
(深静噪)
低
写入
高
[ 宽 ]
SSG 输出 : -117 dBm (0.3μV)
SSG MOD : 3.0kHz
[ 窄 ]
测试 CH : 中心
SSG 输出 : -116 dBm (0.35μV)
SSG MOD : 1.5kHz
5. 电池检测写入 BATT 端子电压 : 5.75V
DVM
ANT
写入
BATT 端子电压 :
BATT 端子
5.75V
接收部分
项目
条件
测量
调整
规格 / 备注
测试设备
端子
部件
方法
REF -20.0 dBm
MKR 155 MHz
CENTER 155 MHz
SPAN 100.0 MHz
∗
RBW 30 kHz VBW 30 kHz SWP 230 ms
ATT 5 dB
10 dB/
A_View Norm B_Blank Norm
-32.43 dBm
MARKER
155 MHz
REF -20.0 dBm
MKR 174 MHz
CENTER 174 MHz
SPAN 100.0 MHz
∗
RBW 30 kHz VBW 30 kHz SWP 230 ms
ATT 5 dB
10 dB/
A_View Norm B_Blank Norm
-30.70 dBm
MARKER
174 MHz
REF -20.0 dBm
MKR 136 MHz
CENTER 136 MHz
SPAN 100.0 MHz
∗
RBW 30 kHz VBW 30 kHz SWP 230 ms
ATT 5 dB
10 dB/
A_View Norm B_Blank Norm
-30.73 dBm
MARKER
136 MHz