Hioki Analog MO HiTESTER IR4011, Инструкция по эксплуатации, Страница: 38 / 104

第 3 章 仕様
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•
温度の影響及び温度の影響量による変動は 18 ℃～ 28 ℃を除く公称使
用温度範囲で適用
•
確度保証範囲における許容差はメータ零位調整器による調整後に適用
* 目盛りの長さとは
目盛の長さとは、「最も外側の目盛の弧の長さ」のことです。仕様では、
0 MΩ、∞目盛の変位は「目盛の長さの 0.7%」と規定されています。
（参照：日本工業規格 JIS C1102-1:2007 直動式指示電気計器－第 1 部：
定義および共通する要求事項）
IR4000 シリーズのスケール板は、両端にある 0 と∞の目盛の太さが、
目盛の長さの 1.2% になるように描かれています。そのため、0 MΩ、
∞目盛の両端は、目盛の中心から目盛の長さの 0.6% の位置になりま
す。よって、指針が目盛の太さの内側にあるならば、仕様の「目盛の長
さの 0.7%」を満たしていると判断できます。
･湿度の影響
（90％rh 以下）
･外部磁界の影響
（400 A/m）
･姿勢の影響量に
よる変動（E
1
）
（水平± 30°）
･供給電圧の影響
量による変動
（E
3
）
固有不確かさ (A)
動作不確かさ(B)
･測定可能回数
（電池寿命）
：第 1 有効測定範囲において 表示値の± 5％
：第 2 有効測定範囲において 表示値の± 10％
上記の影響量 かつ 許容差以内
：表示値の± 3％
：表示値の± 15％
0ＭΩ，∞目盛においては目盛の長さ
*
の± 2％
：表示値の±５％かつ仕様許容差内（電池有効範囲
において）
：± 10%（第 1 有効測定範囲）
：± 30%（第 1 有効測定範囲）
：1 回の測定時間を５秒間 ON － 25 秒間 OFF と
して定格測定電圧を維持できる下限測定抵抗値
を測定したとき 1000 回
目盛りの中心