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KO
스펙트럼
엔진:
i1Pro 3 PLUS: i1® 기술 (128 픽셀 다이오드 어레이가 있는 홀로
그램 회절 격자) - 파장 검사 기능 내장
스펙트럼 범위::
380 - 730 nm
물리적 샘플링 간격::
3.5 nm
광학 해상도:
10 nm
스펙트럼 보고:
380 nm ... 730 nm in 10 nm 단계
스캔 모드의 측정 빈도:
초당 400회 측정
광학기기:
측정 기하 구조:
45°/0° 링 조명 렌즈, ISO 13655:2017
측정 애퍼처
8 mm (0.31”) 직경
(스캔 중 유효 측정 애퍼처는 패치 크기와 측정 속도에 따라 달라짐
조명 스팟 크기:
12 mm (0.47”)
광원
i1Pro 3 LED 조명 (UV 포함)
반사율 측정:
분광 반사율 [무차원]
측정 조건:
M0: UV 포함 - ISO 13655:2017
M1: D50 - ISO 13655:2017
M2: ISO 13655:2017
M3: 편광 - ISO 13655:2017
OBC:
i1Profiler 소프트웨어로 형광 증백제 보정(OBC)
교정:
외부 흰색 세라믹 참조를 이용한 수동 교정
측정 배경:
흰색, ISO 13655:2017; 백업 보드에서 측정
스팟 모드에서 최소 패치 크기
(폭 x 높이):
14 x 14 mm (0.55” x 0.55”)
스캔 모드에서 최소 패치 크기 (
폭 x 높이):
최대 스캔 길이:
16 x 16 mm (0.63” x 0.63”) - i1iO 사용
16 x 16 mm (0.63” x 0.63”) - 센서 눈금자 사용
20 x 16 mm (0.79” x 0.63”) - 센서 눈금자 미사용
20 x 16 mm (0.79” x 0.63”) - M3 모드에서 센서 눈금자 사용
22 x 16 mm (0.87” x 0.63”) - M3 모드에서 센서 눈금자 미사용
515 mm (20.28")
장치간 일치성:
0.4 ∆E00* 평균, 1.0 ∆E00* 최대
(12 BCRA 타일(D50, 2°), 온도 23ºC (73.4ºF)에서 X-Rite 제조
표준의 편차)
단기 반복성
백색에서 0.1 ∆E94* (D50,2°, 백색에서 3 초마다 10회 측정 평균)
방사
측정:
분광 방사 휘도 [mW/nm/m2/sr], 휘도 [cd/m2]
측정 범위:
0.2 - 5000 cd/m2, 일반 LCD 모니터 기준r
단기 반복성:
보통 x,y ±0.002 (5000 K, 80 cd/m2)
환경 조명
측정:
i1Pro 3 PLUS:
분광 방사 휘도 [mW/nm/m2], 조도 [lux]
코사인 보정 디퓨저 조명 측정 헤드
인터페이스:
USB 1.1
사양
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