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10. Utilisation du microscope
10.1 Réglage de l’intensité lumineuse
Tourner la molette de réglage de l’intensité lumineuse pour
allumer et éteindre l’instrument, et pour augmenter ou diminuer
la tension de l’illumination
①
. (Fig. 14)
• Seulement pour le modèle B-510MET-R
. Il y a un
interrupteur à trois positions à l’arrière du pied: la position “I”
allume la lumière transmise, la position “II” allume la lumière
réfléchie et la position “O” éteint le microscope.
F
Fig. 14
ig. 14
F
Fig. 15
ig. 15
F
Fig. 17
ig. 17
FFig. 16
ig. 16
①
②
③
④
10.2 Réglage de la friction
• Réglage de la friction de la vis à l’ aide de la bague.
La tension de la bague de mise au point grossière est préréglée
en usine.
1.
Pour l’ ajuster, il faut utiliser la clé fournie
②
et faire tourner
la bague de réglage de friction. (Fig. 15)
•
Pour augmenter la friction, tourner la bague dans le sens de
la rotation horaire.
•
Si la platine s’abaisse sous l’effet de son propre poids ou
si la mise au point obtenue avec la vis de mise au point
micrométrique se perd rapidement, la friction est trop basse.
Dans ce cas, tourner la bague de réglage de friction dans le
sens de la rotation horaire pour augmenter la friction.
10.3 Levier de blocage de la mise au point
Le levier de blocage a une double fonction: empêcher le contact
entre l’objectif et l’échantillon et mémoire pour la mise au point.
1.
Une fois la mise au point faite, tirer vers l’avant du microscope
le levier
③
et le bloquer dans cette position de mise au point
supérieure (Fig. 16).
•
A ce stade, vous pouvez abaisser la platine avec la vis
de réglage macrométrique, remplacer l’échantillon, puis
élever la platine jusqu’au point supérieur: l’échantillon sera
approximativement focalisé et vous n’aurez qu’à faire une
mise au point micrométrique pour obtenir la meilleure mise
au point. Le mouvement micrométrique n’est pas influencé
par le blocage de la mise au point.
• Pour débloquer, déplacer le levier dans la direction
opposée à celle utilisée pour le blocage.
10.4 Platine
10.4.1 B-510MET
La platine accepte des échantillons métallographiques d’une
épaisseur maximale de 35 mm, sur un support de 26 x 76 mm.
• Agrandir les surplatine
④
et placer les lames frontalement
sur la platine. (Fig. 17)
• Relâcher doucement les surplatine pour éviter la chute
des lames.
• Le relâchement brusque de les surplatine peut entraîner
la chute de l’une ou des deux lames.
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