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NEX-EA50CH/EA50CK/EA50EH/EA50H/EA50JH/EA50K/EA50UH
– JAPANESE –
1-5. 自己診断機能
1-5-1. 自己診断機能について
本機の動作に不具合が生じたとき，自己診断機能が働き，ビュー
ファインダーまたはLCD画面に，どう処置したらよいか判断で
きる表示を行います。「自己診断表示」と「サービスモード表示」
の２つの表示があります。自己診断機能については取扱説明書
にも掲載されています。
1-5-2. 自己診断表示
本機の動作に不具合が生じたとき，ビューファインダーまたは
LCD画面のカウンタ表示部分がアルファベットと数字の4桁表
示になり，3.2Hzで点滅します。この5文字の表示によって対
応者分類および不具合の生じたブロックの分類，不具合の詳細
コードを示します。
0 0
C
2
3
対応者分類
「1‑5‑3. 自己診断コード表」を参照
対応方法の違いにより分類
例
･
メモリーカードをフォーマットする
･
･
3
1
32 ･･ ･電源を入れ直す
ブロック分類
詳細コード
3.2 Hz点滅
C ：お客さま自身で対応
E ：サービスエンジニア
で対応
ビューファインダーまたはLCD画面
1-5-3. 自己診断コード表
自己診断コード
症状／状態
対応／方法
対
応
者
ブロック
機能
詳細
コード
C
0
4
0
0
標準以外のバッテリを使用している
インフォリチウムバッテリを使用する。
C
0
6
0
0
バッテリが高温になっている
バッテリを交換するか, バッテリを涼しいとこに置く。
C
1
3
0
1
フォーマットしていないメモリー
カードを入れた
メモリーカードが壊れている
メモリーカードをフォーマットする。
新しいメモリーカードに交換する。
C
1
3
0
2
アクセスエラー
電源を外し，再度入れ直してから操作する。
C
1
3
0
3
アクセスエラー (外部メディア)
電源を入れ直す。
C
1
3
0
4
ドライブの異常 (外部メディア)
電源を入れ直す。
C
E
3
2
6
1
6
0
0
0
フォーカスが合いにくい
（フォーカスの初期化ができない）
電源を入れ直す。
E
2
0
0
0
フラッシュメモリが書き換えられて
いる
フラッシュメモリのデータを元の値に戻す。（注意1）
E
3
1
0
0
ドライブの異常
電源を入れ直す。
注意1：
Adjust StationからAdjust Manualを起動させて
「DESTINATION DATA WRITE」を参照してください。
注意2：
*マークのコードは本機には実装されていない機能です。
(
)
*
*
1-4. MB Nプレートとマウントブロック交換時の注意
以下の手順は3箇所それぞれ行ってください。
注意: MB Nプレートとマウントブロックの交換を行う前に，手順(1)から(3)にて交換前の寸法を測定してください。
(1) イメージャ Assy，IM調整ワッシャを取り外してください。
(2) 取り外したIM調整ワッシャの寸法（
A
）を測定してください。
A
+
B
BA
SSM
高さ調整測定治具
J-6082-689-A
(3) IM調整ワッシャが取り付いていたビス穴端面からE-Mount端面までの寸法（
B
）を測定してください。
(4) 新品の前キャビネットの各IM調整ワッシャ取り付け部についても同様に寸法（
B
'）を測定してください。
(5) 以下の式より新たに使用するIM調整ワッシャの寸法（
A
'）を算出し，ワッシャの選定を行ってください。
交換前の寸法（
A
+
B
） − 新前キャビネットの寸法（
B
' ） = 交換後のIM調整ワッシャ寸法（
A
'）
(6) 選定したIM調整ワッシャを使用してイメージャを組み付けてください。
(7) 組立完成後，試し撮りを行い周辺ボケ等の不具合が無いことを確認してください。
