1-11
JAPANESE
JAPANESE
DSC-WX1_L2
1-5-3. 自己診断コード表
C
C
E
E
E
E
E
E
E
E
E
ブロック
機能
1
3
3
2
6
1
6
1
6
2
6
2
6
2
6
2
6
2
9
1
9
2
詳細
コード
0
1
0
1
0
0
1
0
0
2
1
0
1
1
1
2
2
0
0
1
0
0
症状/状態
内蔵メモリーに メディアエラー が
あった
内蔵メモリーにフォーマットエラー
があった
フォーマットしていない
メモリー
スティック デュオ
を入れた
メモリースティック デュオ
が
壊れている
メモリースティック デュオ
の
タイプエラーを検出した
メモリースティック デュオ
が
読み/書きできない
ハードウェアトラブルを検出した
フォーカスが合いにくい
(フォーカスの初期化ができない)
ズーム動作の異常
(ズームレンズの初期化ができな
い)
手振れ補正用ICの異常
手振れ補正用ICの異常
(レンズ初期化異常)
レンズオーバーヒート(PITCH)
レンズオーバーヒート(YAW)
サーミスタの異常
フラッシュの充電異常
規定外の充電池が使用された
自己診断コード
対応/方法
電源を入れ直す。
内蔵メモリーをフォーマットする。
メモリースティック デュオ
をフォーマットする。
新しい
メモリースティック デュオ
に交換する。
規格内の
メモリースティック デュオ
を挿入する。
電源の入れ直し,または
メモリースティック デュオ
の挿し/外しを数回試す。
電源を入れ直す。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合はレンズブロックのフォーカスリセットセ
ンサ(SY-233基板CN401
rf
ピン)を点検する。異常なけ
ればフォーカスモータ駆動IC(SY-233基板IC402)を点検
する。
操作スイッチの電源を入れ直す。
ズームレバーを操作したときにズーム動作をすればレンズ
ブロックのズームリセットセンサ(SY-233基板CN401
ra
ピン)を点検する。異常なければズームモータ駆動IC
(SY-233基板IC402)を点検する。
手振れ補正用IC(SY-233基板IC402)を点検または交換す
る。
手振れ補正用IC(SY-233基板IC402)を点検または交換す
る。
光学手振れ補正ブロックのホール素子(PITCH)(SY-233
基板CN401
qf
,
qh
ピン)を点検する。異常なければ
PITCH/YAW角速度センサ(SY-233基板SE403)周辺の回
路を点検する。
光学手振れ補正ブロックのホール素子(YAW)(SY-233
基板CN401
qj
,
ql
ピン)を点検する。異常なければ
PITCH/YAW角速度センサ(SY-233基板SE403)周辺の回
路を点検する。
光学手振れ補正ブロックのサーミスタ(SY-233基板
CN401
qa
,
qs
ピン)を点検する。
ST-221基板を点検または交換する。(Note)
規定の充電池を使用する。
対
応
者
Note:交換後は,必ず「1-6. フラッシュエラー発生時の対処法」を行って下さい。