Qlogic QLA234 Series, Быстрый старт

Страница: 43 / 82

41
政府機関による認定
QLogic SANblade HBA
以降の項では、放射妨害波、放射免疫、および製品安全の各基準に準拠するため、
QLogic SANblade HBA
に対して実施さ
れた
EMC/EMI
テスト仕様の要約を示します。
EMI
および
EMC
要件
FCC
パート
15
準拠 ： クラス
A
（
QLE200
、
QME2462
、
QME2472
）、クラス
B
（
QLA234x
）
FCC
準拠情報ステートメント
:
この装置は、
FCC
規則のパート
15
に準拠しています。その動作は、次の
2
つの条件に従
います。（
1
） この装置は、有害な障害を引き起こすことはありません。（
2
） この装置は、望ましくない動作を引き起こす
可能性のある障害を含め、あらゆる受信障害の影響を受けます。
ICES-003
準拠 ： クラス
A
（
QLE200
、
QME2462
、
QME2472
）、クラス
BQLA234x
）
❑
QLE200
、
QME2462
、および
QME2472 HBA:
このクラス
A
デジタル装置は、カナダ
ICES-003
に準拠していま
す。
Cet appareil numériqué de la classe A est conformé à la norme NMB-003 du Canada.
❑
QLA234x HBA:
このクラス
B
デジタル装置は、カナダ
ICES-003
に準拠しています。
Cet appareil numériqué de la classe B est conformé à la norme NMB-003 du Canada.
CE
マーク
2004/108/EC EMC
指令準拠
:
EN55022:1998/CISPR22:1997 -
クラス
A
（
QLE200
、
QME2462
、
QME2472
）、クラス
B
（
QLA234x
）
EN55024:1998
イミュニティ規格
EN61000-4-2: ESD
EN61000-4-3:
放射無線周波電磁界
EN61000-4-4:
電気的ファーストトランジェント
/
バースト
EN61000-4-5:
雷サージの電力線・信号線および通信線への進入
EN61000-4-6:
無線周波電磁界によって誘導される伝導性妨害
EN61000-4-8:
電源周波数磁界
EN61000-4-11:
電圧低下、一時的遮断および電圧変動
EN61000-3-2
：高調波電流
EN61000-3-3
：電圧フリッカ
VCCI
準拠 ： クラス
A
（
QLE200
、
QME2462
、
QME2472
）、クラス
B
（
QLA234x
、
QLE246x
）
AS/NZS CISPR22
準拠 ： クラス
A
（
QLE220
、
QME2462
、
QME2472
）、クラス
B
（
QLA234x
、
QLE246x
）
CNS 13438
準拠 ： クラス
B
（
QLA234x
）
Caution—Class 1 laser radiation when open
Do not view directly with optical instruments
Attention—Radiation laser de classe 1
Ne pas regarder directement avec des instruments optiques
Vorsicht—Laserstrahlung der Klasse 1 bei geöffneter Abdeckung
Direktes Ansehen mit optischen Instrumenten vermeiden
Varoitus—Luokan 1 lasersateilya, kun laite on auki
Älä katso suoraan laitteeseen käyttämällä optisia instrumentteja
警告
—
開くとクラス
1
レーザーが放射されます。
光学機器を直接見ないでください。
クラス
I
レーザー製品
Class 1 Laser Product
Appareil laser de classe 1
Produkt der Laser Klasse 1
Luokan 1 Laserlaite
クラス
1
レーザー製品