koban Meterbox KMOS-01, Руководство пользователя

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Sección Osciloscopio
Nota:
•Los componentes o desviaciones de CD existentes en la señalpodrían producir
unerrorodeviaciónen componentes de las formas de ondasFFT.Seleccione el modo de
acoplamientoCDpara reducir el componenteCA.
•Frecuencia Nyquist:Para formas de onda,cuyo valor más alto llega a F, la frecuencia de
muestreo2Fdebe adoptarse parareconstruir la forma de onda,que también se le llamacriterio
Nyquist,“F”significa frecuencia Nyquist,
“2F”significa tasaNyquist.
211Sistema de Captura de Señal
•Muestreo en tiempo real:El espacio de memoria debe ser completado en cada muestreo.Las
frecuencias de muestreo en tiempo real llegan hasta50MSa/s.
•El sistema está en estado predeterminado de muestreo continuotras iniciarse,presione
“HOLD”(retener) si el usuario desea tomar medición estática,presione el mismo
botón nuevamente para volver al estado de muestreo continuo.
•Botón ”REC” (grabar):Si el usuario necesita que el osciloscopiotome muestras de
datos suficientes para analizar una serie de números,presione“REC”,elosciloscopio
podrá tomar de forma continua muestras de datos de10páginaspara análisis de
medición.
•Base de tiempo:Elosciloscopiotoma muestras de los valores de la señal de entradaen
puntos discontinuospara digitalizar la forma de onda.La frecuenciade valor de
digitalizaciónpuede ser controlada mediante la adopción de la base de
tiempo.Pulse“
“,ajuste la base de tiempo a un nivelhorizontalpara satisfacer las
necesidades del usuario,
•Fenómeno ondulatorio falso:Si la velocidad del muestreo no es suficientemente
rápida,provocando registros inexactos de forma de ondas, podría ocurrir
un“fenómeno ondulatorio falso”.En este caso,elosciloscopiomuestra la forma de onda
por unafrecuenciaque está por debajo de la frecuencia de entradao dispara y muestra formas
de onda inestables.Entonces,presione“AUTO”parala búsqueda automáticapara la primera
medición de la nueva señal,para confirmar la frecuencia básica de esta señal.
forma de onda de
alta frecuencia
forma de onda de
bajafrecuenciacausada
por un fenómeno
ondulatorio falso
punto de muestreo
Fenómeno ondulatorio falso