1-6
DSC-T70/T75_L2
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JAPANESE
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1-2-3. 自己診断コード表
C
C
E
E
E
E
E
E
E
E
E
ブロック
機能
1
3
3
2
6
1
6
1
6
2
6
2
6
2
6
2
6
2
9
1
9
2
詳細
コード
0
1
0
1
0
0
1
0
0
2
1
0
1
1
1
2
2
0
0
1
0
0
症状/状態
内蔵メモリにフォーマットエラーが
あった。
フォーマットしていない
メモリー
スティック デュオ
を入れた。
メモリースティック デュオ
が
壊れている。
メモリースティック デュオ
の
タイプエラーを検出した。
メモリースティック デュオ
が
読み/書きできない。
ハードウェアトラブルを検出した。
フォーカスが合いにくい。
(フォーカスの初期化ができない)
ズーム動作の異常。
(ズームレンズの初期化ができな
い)
手振れ補正用ICの異常。
手振れ補正用ICの異常。
(レンズ初期化異常)
レンズオーバーヒート(PITCH)
レンズオーバーヒート(YAW)
サーミスタの異常。
フラッシュの充電異常。
規定外の充電池が使用された。
自己診断コード
対応/方法
内蔵メモリをフォーマットする。
メモリースティック デュオ
をフォーマットする。
新しい
メモリースティック デュオ
に交換する。
規格内の
メモリースティック デュオ
を挿入する。
電源の入れ直し,または
メモリースティック デュオ
の挿し/外しを数回試す。
電源を入れ直す。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合はレンズブロックのフォーカスリセットセ
ンサ(SY-183基板CN401
ea
ピン)を点検する。異常なけ
ればフォーカスモータ駆動IC(SY-183基板IC401)を点検
する。
操作スイッチの電源を入れ直す。
ズームボタンを操作したときにズーム動作をすればレンズ
ブロックのズームリセットセンサ(SY-183基板CN401
wk
ピン)を点検する。異常なければズームモータ駆動IC
(SY-183基板IC401)を点検する。
手振れ補正用IC(SY-183基板IC503)を点検または交換す
る。
手振れ補正用IC(SY-183基板IC503)を点検または交換す
る。
光学手振れ補正ブロックのホール素子(PITCH)(SY-183
基板CN401
1
,
2
ピン)を点検する。異常なければ
PITCH角速度センサ(SY-183基板SE502)周辺の回路を点
検する。
光学手振れ補正ブロックのホール素子(YAW)(SY-183
基板CN401
6
,
7
ピン)を点検する。異常なければYAW
角速度センサ(SY-183基板SE501)周辺の回路を点検す
る。
光学手振れ補正ブロックのサーミスタ(SY-183基板CN401
5
ピン)を点検する。
フラッシュユニットを点検または交換する。(Note)
規定の充電池を使用する。
対
応
者
Note:交換後は,必ず「1-3. フラッシュ異常修理後の処置」を行って下さい。