CAPACITEIT (alleen model 600.219)
Bereik
Resolutie
Nauwkeurigheid
2000pF
1pF
20nF
10pF
200nF
100pF
2µF
1nF
20µF
10nF
±(5.0%+5 Digits)
TRANSISTOR hFE TEST
Bereik
hFE
Teststroom
Testspanning
PNP & NPN
0 ~ 1000
Ib
≈ 10µA
Vce ≈ 2.0V
TEMPERATUURMETING (alleen model 600.219)
Bereik
Temperatuurbereik
Resolutie
Nauwkeurigheid
0ºC ~ 400ºC
1ºC
±(1.5%+5ºC)
TEMP.
400ºC ~ 1000ºC
1ºC
±(1.5% +15ºC)
NB!: Temperatuurmeting met behulp van een “K” type
thermokoppel (meegeleverd)
DIODE EN DOORVERBINDINGSTEST
Bereik
Omschrijving
Testconditie
De voorwaartse
doorlaatspanning van de
geteste diode is zichtbaar
in de display.
( Si diode ca. 0,6V)
De meetstroom bedraagt
ca. 1 mA. De
sperspanning is ingesteld
op ca. 2,8V
De zoemer wordt
geactiveerd indien de
weerstand van de
gemeten doorverbinding
kleiner is dan 30 Ohm.
Meetspanning ca. 2,8V
Summary of Contents for 600.219
Page 2: ......