1-6E
JAPANESE
JAPANESE
HDR-SR1/SR1E_L2
1-3-3.自己診断コード表
C
C
C
C
E
E
E
E
E
E
E
E
ブロック
機能
0
4
1
3
1
3
3
2
2
0
3
1
6
1
6
1
6
2
6
2
9
1
9
4
詳細
コード
0
0
0
1
0
2
6
0
0
0
0
0
1
0
1
1
0
0
0
1
0
1
0
0
症状／状態
標準以外のバッテリを使用している
フォーマットしていない“メモリー
ステック デュオ”を入れた
“メモリーステック デュオ”が壊
れている
ディスクアクセスエラー
フォーカスが合いにくい
（フォーカスの初期化ができない）
EEPROMが書き換えられている
ドライブ不良
ズーム動作の異常（ズームレンズの
初期化ができない）
フォーカス，ズーム異常
手振れ補正が効きにくい（PITCH
角速度センサ出力張り付き）
手振れ補正が効きにくい（YAW 角
速度センサ出力張り付き）
フラッシュの充電異常
フラッシュメモリの書込み/消去動
作不良
自己診断コード
対応／方法
インフォリチウムバッテリを使用する。
“メモリーステック デュオ”をフォーマットする。
新しい“メモリーステック デュオ”に交換する。
電源を外し，再度入れ直してから操作する。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合，レンズブロックのフォーカスMRセンサ
（LD-226基板CN5201
ql
，
wa
ピン）を点検する。異常な
ければフォーカスモータ駆動回路（LD-226基板IC5204）
を点検する。
EEPROMのデータを元の値に戻す
ハードディスクドライブを点検または交換する。
ズームレバーを操作したときにズーム動作をすれば，レン
ズブロックのズームMRセンサ（LD-226基板CN5201
qh
，
qk
ピン）を点検する。ズーム動作をしなければズーム
モータ駆動回路（LD-226基板IC5204）を点検する。
自己診断コードC：32：60とE：61：10の両方を点検す
る。
PITCH角速度センサ（CM-074基板SE6801）周辺回路を
点検する。
YAW角速度センサ（CM-074基板SE6802）周辺回路を点
検する。
フラッシュユニットの点検または交換をする。
フラッシュメモリ（VC-456基板IC1601）を点検する。
対
応
者
